影響(xiang)K型熱電偶測(cè)溫的兩種因(yīn)素

1、短(duǎn)程有序結構(gou)變化(K狀态)的(de)影響K型熱電(diàn)偶在250℃—600℃溫度範(fan)圍🐅内使🛀🏻用時(shí)，由于其顯微(wei)結構發生變(biàn)化，形成短程(chéng)有序結構，因(yin)此将影響熱(re)電勢值而産(chan)生誤差，這就(jiu)是所謂的K狀(zhuàng)🐪态。它是Ni—Cr合金(jīn)特有的晶格(gé)變化，當Cr含量(liang)在5—30%範圍🐪内存(cun)在着原子晶(jīng)格的有序無(wu)序轉變。由❤️此(cǐ)而引起的🌈誤(wu)差，因Cr含量及(ji)溫度的不同(tóng)而變化。将🌏K型(xing)熱電偶從300℃加(jia)📞熱至800℃，每50℃取一(yi)點，測量該點(dian)電勢🈚。在450℃時偏(piān)差最大可達(dá)4℃，在350—600℃範圍内，均(jun)爲正偏差。由(you)于K狀态的存(cun)在，使K型熱電(dian)偶在升溫或(huò)降溫檢定結(jié)果不一緻，故(gu)在廉金㊙️屬熱(re)電偶檢定規(gui)程中明文規(guī)定檢定順序(xu)：由低溫向高(gao)溫逐點升溫(wēn)檢定。而且在(zài)400℃檢定點，不🚶‍♀️僅(jǐn)傳熱效果不(bú)佳，難以達到(dao)🏒熱平衡，而且(qie)，又恰好處于(yu)K狀♻️态誤差最(zuì)大範圍。因此(cǐ)，對該點判定(ding)合格與否✔️時(shi)應很慎🥵重。Ni—Cr合(hé)金短程有序(xu)結構變化的(de)現象，不僅存(cun)在于K型，而且(qie)，在E型熱電偶(ǒu)正極中也有(yǒu)此現象💋。但是(shi)，作爲變化量(liang)E型熱💁電偶僅(jǐn)爲K型的2/3。總之(zhī)，K狀态與溫度(dù)、時間有關，當(dāng)溫度分布或(huo)熱電偶位置(zhi)⛷️變化時，其偏(pian)差也會發💘生(sheng)很大變化。故(gu)難以對偏差(cha)大小作出✔️準(zhun)确評價。